لينك‌ها

[ بازگشت | جستجو | فهرست ناشران ]

اطلاعات کتاب

[ 87 بار نمایش ]

عنوان کتاب (ebook)

Advanced Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices

موضوع کتاب دیجیتالی [ Technology & Engineering ]
شابک (ISBN) 9781580537094, 158053709X
تعداد صفحه 301 صفحه
ناشر (انتشارات) [ ] تاریخ انتشار کتاب 2007
ویرایش 1

نمايش خلاصه کتاب

Advanced Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices  
تست و جوی پیشرفته تولید RF، SOC، و فکر تهیه مکان مستقل دستگاه ها،

Back cover of Advanced Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices Front cover of Advanced Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices
نویسند‌گان:

,

شرح مختصر:

Based on real-world experience and packed with time-saving equations, this in-depth volume offers professionals practical information on essential topics that have never been presented in a single reference before.


بر اساس تجربه در دنیای واقعی و بسته بندی شده با معادلات صرفه جویی در زمان، این در عمق حجم ارائه می دهد حرفه ای اطلاعات عملی در مورد موضوعات مهم است که هرگز در یک مرجع واحد ارائه قبل از.


شرح مفصل:

Featuring invaluable input from industry-leading companies and highly-regarded experts in the field, this first-of-its kind resource offers experienced engineers a comprehensive understanding of the advanced topics in RF, SiP (system-in-package), and SoC (system-on-a-chip) production testing that are critical to their work involving semiconductor devices. The book covers key measurement concepts for semiconductor device testing and assists engineers in explaining these concepts to management to aid in the reduction of project cost, time, and resources. Based on real-world experience and packed with time-saving equations, this in-depth volume offers professionals practical information on essential topics that have never been presented in a single reference before.


این برنامه شامل ورودی ارزشمند از شرکت های پیشرو در صنعت و کارشناسان بسیار مورد توجه در این زمینه، اولین بار از این از آن نوع منابع ارائه می دهد مهندسین مجرب درک جامع از مباحث پیشرفته در RF، فکر تهیه مکان مستقل (سیستم در بسته)، و SOC ( سیستم بر روی یک تراشه) تست تولید است که به کار خود شامل دستگاه های نیمه هادی، بسیار مهم است. این کتاب را پوشش می دهد مفاهیم اندازه گیری کلیدی برای آزمایش دستگاه های نیمه هادی و مهندسان در توضیح این مفاهیم به مدیریت برای کمک به کاهش هزینه های پروژه، زمان و منابع کمک می کند. بر اساس تجربه در دنیای واقعی و بسته بندی شده با معادلات صرفه جویی در زمان، این در عمق حجم ارائه می دهد حرفه ای اطلاعات عملی در مورد موضوعات مهم است که هرگز در یک مرجع واحد ارائه قبل از.



[ لينک دايمي به اين صفحه: ]

* متن ترجمه شده فوق در این صفحه (شامل نام کتاب و شرح مختصر) ممکن است دقیق نباشد. [توجه: کتاب فوق به زبان اصلی میباشد و ترجمه فارسی آن در این سایت موجود نیست]
نمايش صفحه قابل چاپ خلاصه کتاب



اطلاعات استنادی این کتاب را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

 
 

معرفی کتاب به دوستان:

اعلام علاقه‌مندی در شبکه Google+
اعلام علاقه‌مندی در شبکه LinkedIn
ارسال اطلاعات به ایمیل / معرفی به دوستان

delicious icon digg icon facebook icon google icon linkedin icon redirect icon stumbleupon icon twitter icon



مرجع دانش (سیویلیکا) | مجلات علمی پژوهشی | رتبه بندی بانکهای ایران | اخبار علمی | دیده بان علم ایران | پروژه ها و تحقیق دانشجویی | مرجع کتاب | فراخوانهای علمی پژوهشی کشور | افراد مهم علمی کشور | مرجع صنعت کنفرانس | اطلاع رسانی کنفرانسها | همایشهای پزشکی | بنانیوز (خبرگزاری مسکن و معماری) | نمایشگاه صنعت ساختمان | بانک نمونه قراردادها